电力变压器套管末屏介质损耗及电容量测试.docx

电力变压器套管末屏介质损耗及电容量测试我是属于知道，但不熟悉高压试验专业的。因此被人问到变压器套管末屏介质损耗及电容量测试方法的时候，很不确定，甚至感觉没看过这个试验似的。电容式套管的结构及电容变压器常用的套管为电容式套管，上图为典型的结构示意图。在导电杆外部包裹绝缘层，其间间隔铝箔，形成同心圆柱形结构，具有电容器的特征。最外层铝箔被称为末屏，一般通过绝缘套管引出，用于测量。I»套管端头变压器绕组电容套管G上一套管末屏引出-L套管g运行中的变压器，套管安装就位后，末屏应当接地。其电容结构如上图所示。图中，Cl为套管主电容，C2为末屏对地电容，C为变压器绕组电容。变压器安装后套管与绕组相连，末屏引出接地。于是就形成了Cl、C2串联，再和C并联的电容结构。其中因为末屏引出接地，因此C2在运行中不承受电压。套管末屏介质损耗我们之所以不熟悉套管末屏介质损耗测试，主要是这个试验很少做。下表是与变压器套管电容、末屏相关的试验规范。其中GB50150为电气装置安装工程电气设备交接试验标准，DL/T596为电力设备预防性试验规程，DL/T393为输变电设备状态检修试验规程。备标准试验周期、要求和判断标准比较试验项目标准代号试验周期要求和判断标准GB50150投运前N100oMQ测量末屏DL/T3933年采用250OV兆欧表.21000MQ绝缘电阻DI7T596（1）1-3年；（2）大修（包括主设备大修）后；（3）必要时.21000MQ（注意值）测量套管介GB5O15O投运前500kV以下试品，忘0i7；50OkV及以上试品，WOS研损耗因数D13933年330kV试品，WO.85；500kV及以上试品，W0.7(UIn6%)DMr596（1）13年；（2）大修（包括主设备大修）后；（3尸必要时W0.8GB5O15O投运前与产品铭牌数值或出厂试验值比较，允许偏差测量套管电容量DL/T3933年电容量初值差不超过±5%（警示值）。DLT596I）13年；2）大修（包括主设备大修）后3）必要时与出厂值或上一次试验值的差别小于上5%测里木屏介GB50150无无质损耗因数DiTT393当套管末屏绝缘电阻不能满足要求时开展W注意值）(Ian6%)DIJT596必要时，末屏对地绝缘电阻小于100OMQ时W2%变压器套管的介质损耗，在安装前是很方便测量的，但交接试验不要求进行末屏的介质损耗测量。运行中的变压器，末屏的介质损耗试验不是必要的项目，只有在末屏绝缘电阻测试不合格时才会进行。因此这个项目真的很少有机会进行测试，所以大家都会不熟悉。套管末屏电容量测试方法运行中套管已经安装到位，套管末屏电容C2的一极连接套管主电容Cl,另一极接地，因此试验只能用反接线完成。但是这里应当强调，试验时必须将套管高压侧接入介质损耗试验仪的屏蔽端，如下图所示，否则试验结果一定是错误的。这是因为，如果直接采用反接线试验而不接入屏蔽端，测量得到的电容量并不是末屏对地电容C2,而是套管主电容Cl与绕组电容C串联后与C2并联的等效电容值。只有接入了屏蔽端，测量的电容量才是末屏C2对地电容值。试验方法测试对象1测试对象2C2（皮法）安装前正接法40234192C2（皮法）安装后反接法不接屏蔽44074575C2（皮法）安装后反接法接入屏蔽40274194C2介损安装后反接法接入屏蔽0.240.26上表对比了接入屏蔽和不接入屏蔽两种反接线方法测试的C2电容值，与安装前正接法测量的C2电容值。可见接入屏蔽的方法测量的数据才是准确的。