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    MRI性能检测方法.docx

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    MRI性能检测方法.docx

    附录AMRI性能检测方法A.1性能检测所需设备与用具所需设备与用具包括:a)模体;b)特斯拉计。A.2性能检测方法A.2.1信噪比测试(SNR)对充满均匀液体的模体进行扫描,所测量感兴趣区为IOO个像素点,其位置在图像的中心按式(A.1)计算信噪比SNR。SNR=J(A.1)式中:M感兴趣区域内信号强度平均值减去周围背景的信号强度平均值:SD一一感兴趣区域内信号强度的标准偏差。A.2.2图像均匀性A.2.2.1对充满均匀液体的模体进行扫描,在感兴趣区里选取九个测量区,分别为感兴趣中心域和边缘0°、45°、90°135°、180°、225°、270°、315°,所测量区为100个像素点,确定每个测量区的信号强度平均值。A.2.2.2选取上述九个测量区的信号强度最大值和最小值,分别按式(A.2)、(A.3)、(A.4)计算差值和中值及图像的均匀性。=l-Axl00%=l-=100%(A.4)式中:SrnaX最大的信号强度值;Smin最小的信号强度值;信号强度最大值和最小值的差值的一半;s,信号强度最大值和最小值的中值:u图像的均匀性。A.2.3几何畸变率(空间线性)测量模体图像中纵、横、斜的尺寸。根据所测量的结果,按式(A.5)计算空间线性L。=D-100%(A.5)式中:L空间线性;Do实际尺寸,单位为毫米(mm);D测量尺寸,单位为亳米(mm)。A.2.4空间分辨力测量模体中的空间分辨力组件,将窗宽调至最小,窗位调至能分辨出最小的一组线对。A.2.5低对比度分辨力测量模体中的低对比度分辨力组件,将窗宽和窗位调至合适的位置,能分辨出最小的一组圆孔。A.2.6层厚测量层厚的模体做成斜面,斜面的表面与扫描平面形成一个角度a。在斜面图像上,测得斜面图像像素强度的剖面分布曲线。在剖面分布曲线上测定峰值一半处的全宽度FWHM,按式(A.6)计算层厚。D=FWHMxtana(A.6)式中:D层厚,单位为毫米(mm)oA.2.7纵横比测量模体外径,将窗宽、窗位调至最佳,测量模体中扫描截面的纵向和横向值。根据所测量的结果,按式(A.7)计算纵横比。h=(1")(A)式中:H为纵横比;LZ为纵向值,单位为亳米(mm);Lk为横向值,单位为毫米(mm)。A.2.8静磁场强度将特斯拉计至于线圈中心区域并读取示值,重复测量3次,按式(A.8)计算误差。AB=警X10。(A.8)式中:B磁场强度误差,%;ToMRl标称磁场强度,单位为特斯拉(T);T特斯拉计3次重复测量的平均值,单位为特斯拉(T)。A.2.9静磁场短期非稳定性将场强传感器置于头线圈中心,重更测量2次,每次间隔1小时。按式(A.9)计量非稳定性。W=毕Xloo%(A.9)式中:W一一静磁场强度非稳定性,%;T1一一第1次测得磁场强度,单位为特斯拉(T);T2第2次测得磁场强度,单位为特斯拉(T);T一一2次测量的平均值,单位为特斯拉(T)。

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